Automatyczna analiza pustek na obrazach XRAY części elektronicznych
Ta aplikacja wykorzystuje sztuczną inteligencję (AI) do wykrywania/rozpoznawania lutowanych obszarów na zdjęciach rentgenowskich części elektronicznych. Dalej przetwarza te części, aby znaleźć puste przestrzenie i wtrącenia wewnątrz lutowanego obszaru.
Szczegółowy raport z analizy (obejmujący obszar każdej pustej przestrzeni, procent pustek w każdym lutowiu itp.) można wygenerować w wersji komputerowej aplikacji.